高阻型霍爾效應(yīng)測試儀，是專門面向高阻半導體、絕緣薄膜這類大電阻材料開發(fā)的磁電特性測試設(shè)備，它跳出了常規(guī)霍爾儀的電阻量程天花板，能完成高阻樣品的霍爾相關(guān)核心參數(shù)測量。

這類設(shè)備*突出的優(yōu)勢，就是突破了普通霍爾儀的電阻測量上限，標配的高阻放大器，能把方塊電阻的測量上限拉到100GΩ每平方，部分升級款型號甚至可以延伸到1011Ω每平方，覆蓋了常規(guī)設(shè)備根本觸及不到的高阻區(qū)間。同時它搭載了pA ji別的高精度恒流源和高阻抗緩放大器，能輸出極微小的穩(wěn)定電流，在高阻樣品里激發(fā)起可被捕捉的霍爾電壓，徹*解決了普通設(shè)備面對高阻樣品時，因電流過小根本采集不到有效信號的痛點。市面上主流的這類設(shè)備，大多還支持常溫、77K液氮低溫，甚至90K到500K的寬范圍變溫測試，磁場配置普遍在3200高斯量級，能適配不同溫度環(huán)境下的高阻材料特性表征需求。

依托這些專屬的硬件設(shè)計，它可以穩(wěn)定輸出高阻材料的多項關(guān)鍵磁電參數(shù)，包括霍爾系數(shù)、方塊電阻與電阻率、載流子濃度、載流子遷移率，還有薄層電導率等一系列衍生的電學性能指標。這類儀器現(xiàn)在主要服務(wù)于寬禁帶半導體、高阻薄膜、絕緣襯底材料等領(lǐng)域的科研與工業(yè)檢測，是普通霍爾效應(yīng)測試儀沒法覆蓋高阻樣品測試需求時的專用解決方案。